ANSI/TIA-455-195-2000 光纤涂层的几何形状测量.FOTP195
作者:标准资料网 时间:2024-05-05 21:08:06 浏览:9818
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【英文标准名称】:CoatingGeometryMeasurementforOpticalFiber-FOTP195
【原文标准名称】:光纤涂层的几何形状测量.FOTP195
【标准号】:ANSI/TIA-455-195-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光波导;光纤;测量技术;涂层
【英文主题词】:fibreoptics;measuringtechniques;coatings;opticalwaveguides
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:光纤涂层的几何形状测量.FOTP195
【标准号】:ANSI/TIA-455-195-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光波导;光纤;测量技术;涂层
【英文主题词】:fibreoptics;measuringtechniques;coatings;opticalwaveguides
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_01
【页数】:
【正文语种】:英语
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